受賞 / 特許

受賞


    36浜松工業会
    浜松工業会学習奨励賞(吉岡 正義)2017.03.16
    35浜松工業会
    浜松工業会学習奨励賞(鈴木 翔)2017.03.16
    34日本機械学会
    日本機械学会三浦賞(森松 大亮)2017.03.16
    33第16回日本表面科学会中部支部学術講演会
    〝空間光変調器により制御された単一光ビームによる非干渉な疑似マルチスポット電気泳動堆積法の開発と複雑な微細立体造形”
    講演奨励賞(松浦 敏樹)2016.12.17
    32大学院研究業績優秀に関する学長表彰(森松 大亮)2016.07.13
    31日本機械学会
    日本機械学会三浦賞(橋本 重孝)2016.03.24
    30精密工学会東海支部
    精密工学会東海支部学生優秀賞(白澤 樹)2016.03.24
    29精密工学会東海支部
    精密工学会東海支部学生優秀賞(松浦 敏樹)2016.03.24

    2823rd International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM23)
    〝A scanning ion conductance microscopy study of ion current behaviors on charged surfaces of polydimethylsiloxane”
    Poster Award(江口 由祐)2015.12.10-12
    2723rd International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM23)
    〝Investigation of shear force of strongly adhering cells on substrates using atomic force microscopy and fluorescence microscopy”
    Poster Award(橋本 重孝)2015.12.10-12
    2623rd International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM23)
    ”Development of a scanning nanopipette probe microscope for atmospheric pressure plasma jets fine processing”
    Poster Award(森松 大亮)2015.12.10-12
    25第15回表面科学会中部支部学術講演会
    〝大気圧プラズマジェット照射可能な走査型ナノピペットプローブ顕微鏡を用いた表面微細加工”
    講演奨励賞(森松 大亮)2015.12.19
    24The 13th International Conference on Automation Technology
    "Development of piezo driven micro tilting stage in SEM for 3D microscopic observation"
    The Best Paper Award (F. Iwata 共著)
    2015.11.13-15

    23 6th International conference of
    ASPEN2015 Asia Society of Precision Engineering and Nanotechnology
    "Atmospheric Pressure Plasma Jets Fine Processing Using a Scanning
    Nanopipette Probe Microscope"
    Best Paper Award (森松 大亮)2015.08.16
    222015年度精密工学会春季大会学術講演会
    “ 空間光変調器を用いたレーザートラップ支援局所的電気泳動推積法による微細立体造形”
    ベストプレゼンテーション賞(髙井隆成)2015.03.19

    212015年度精密工学会春季大会学術講演会
    “ マイクロカンチレバーを用いた単一細胞の剥離力測定による環境依存性評価”
    ベストプレゼンテーション賞(橋本重孝)2015.03.19
    202015年度 自動車技術会大学院研究奨励賞 ( 髙井 隆成)
    19第14回 表面科学会中部支部 学術講演会
    “レーザートラップ支援局所的電気泳動堆積法による微細立体加工”
    講演奨励賞(高井隆成)2014.12.20
    1822th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy
    “Cell Adhesion surement of a Single Cell Using a Self-sensitive Cantilever”
    Poster Award(橋本重孝)2014.12.11-13
    1722th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy
    “Development of a single cell electroporation method
    using a scanning ion conductance microscope with a theta type nanopipette”
    Poster Award(櫻井智史)2014.12.11-13
    16IEEE 25th 2014International Symposium on Micro-NanoMechatronics and HumanScience (MHS2014)
    “Development of a single cell electroporation method using a scanning ion conductance microscope with a theta type probe pipet”
    Best Paper Award (櫻井智史)2014.11.10-12
    15IEEE 24th 2013 International Symposium on Micro-NanoMechatronics and HumanScience (MHS2013)
    “Influence of charged samples on imaging in scanning ion conductance microscopy”
    Best Paper Award (石崎公大)
    1420th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy
    “Nanomanipulation of nanoparticles using high-speed imaging in tapping mode”
    Poster Award(石崎逸八)
    132012年度精密工学会春季大会学術講演会
    “高速画像取得可能なタッピングモードAFMを用いたナノマニピュレータの開発”
    ベストプレゼンテーション賞(石崎逸八)
    122010年度精密工学会秋季大会学術講演会
    “ナノピペットプローブを用いた電気泳動による液中堆積加工法の開発”
    ベストポスタープレゼンテーション賞(伊東聡)
    112010年度精密工学会春季大会学術講演会
    “ナノピペットプローブを用いた微細立体造形法の開発”
    ベストプレゼンテーション賞(深田徹)
    102010年産学連携表彰制度
    “ナノ微粒子・ナノ材料の長微小量堆積技術に関する開発”
    静大IJRC賞「はましん賞」
    92009年度精密工学会秋季大会
    “走査型ナノピペットプローブ顕微鏡を用いた微細金属ドット推積法の開発”
    ベストポスタープレゼンテーション賞(伊東聡)
    82008年度精密工学会秋季大会
    “レーザトラップを用いた局所的電気泳動堆積法による3次元微細造形法の開発”
    ベストプレゼンテーション賞(鈴木淳志)
    72008年レーザー学会第28回年次大会
    “レーザトラップ技術を用いたナノ微粒子の局所的電気泳動堆積法の開発”
    優秀論文発表賞(加地正幸)
    62004年度精密工学会秋季大会 学術講演会
    “マイクロマグネティックマニピュレータの開発と磁気微粒子の非接触操作”
    ベストプレゼンテーション賞(伊東聡) 
    5MMS賞(2004年) 田中貴金属財団
    “ナノスケール貴金属微粒子が堆積可能なナノピペットプローブ微細加工機の開発”
    42004年度自動車技術会
    “走査型マイクロピペットプローブ顕微鏡を用いた超微細パターニング法の開発”
    大学院研究奨励賞 (永見信一郎)
    3日本レーザ学会年次大会
    “微弱電流検出可能な近接場光学顕微鏡によるEC薄膜のナノスケール着消色観察”
    優秀論文発表賞(2003年)(御影勝成)
    2JICAST2002
    “Development of current-sensing scanning near-field optical microscope for local pbservation and modification of electrochromic films”
    Ikeda Award (2002年)(御影勝成)
    1高柳研究奨励賞(2000年)
    “走査型プローブ顕微鏡の開発とナノメートルスケールの計測および加工に関する研究”

 

 

 

特許

    • ・(外国出願)Inventors: F.Iwata, T. Shiomi, and K. Suzuki

         CONTACT  STATE  DETECTION  APPARATUS 

         National University Corporation Shizuoka University

       Application Number: 13/744,587  

       Patent No.: US 9,118,311 B2 Date ofPatent: Aug.25,2015Assignee

    • ・ 発明者 岩田太、微小付着物剥離システムおよび微小付着物剥離方法、

       出願人 国立大学法人静岡大学 出願日 平成23年8月31日、特願2011-189801

          特許 5849331号 登録日 平成27年12月11日

    • ・発明者 東條徹1、鵜木信1、萩原良典1、北村美津子1、岩田 太2

       基板上に微小物質を再現性良く推積させる方法

       出願人:株式会社デザインテック 1  国立大学法人静岡大学2

       特願2011-227227号 出願日2011.10.14

    • ・発明者 岩田 太、塩見 俊夫、鈴木 康司

       接触状態検出装置接触状態検出方法接触状態検出用コンピュータープログラム接触状態検出装置を備る電気

       伝導度測定システム及接触状態検出方法を含電気伝導度測定方法,

       出願人 国立大学法人静岡大学 特願2011-65959号 出願日 2011.07.13

          特許 5849335号 登録日 平成27年 12月 11日

    • ・発明者 岩田太、接触状態検出装置、接触状態検出方法および接触状態検出用コンピュータプログラム,

       出願人:国立大学法人静岡大学 特願2010-159971号 出願日 2010.07.14

    • ・ 発明者 岩田太、ステージ装置

       出願人 静岡大学  特願2009-100897号 出願日2009.4.17

    • ・ 発明者 岩田太、安武正敏、中上卓哉、菊池修一、高岡 修

       液中測定装置及び液中測定方法

       出願人 静岡大学、エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社

       出願日2007. 6.14  特願2007-157585号, 特開2008-309630 

       特許4870033号

    • ・発明者 岩田太、安武 正敏、中上卓哉、菊池修一、高岡 修

        出願人 静岡大学、エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社

       微細加工粉除去装置及び微細加工装置並びに微細加工粉除去方法

        出願日2007.6.1, 特願2007-147138号, 特開2008-012656, 特許5044290号

    •  ・発明者 岩田太 微粒子固定装置および微粒子固定方法

       出願人: 静岡大学

       出願日2008.1.25 特願2008‐14642 特開2009-006311   特許第 5447759号(2014)

    •  ・発明者 岩田太 

       磁気プローブ、同磁気プローブの製造方法および同磁気プローブを備える微粒子配置装置

       出願人 静岡大学

       出願日2007.8.31, 特願2007‐227209、特開2009-056565

    • ・(外国出願)Inventors: F. Iwata, M. Yasutake, T. Nakaue, K. Syuichi, O. T. Osamu,

       Micro-machining dust removing device, micro-machining apparatus, and micro-machining dust removing method,

       Assignee: Shizuoka University, SII Nano Technology Inc.,

       出願日2007.6.4 (Application Number : 11/810,230,United States Patent Application 20080132151)

    • ・ 発明者 岩田太、山本龍二、伊東聡、佐々木彰

       微小物質固定装置及び微小物質固定方法

       出願人:静岡大学

       出願日2008.1.25, 特願2006‐236599、特開2008-055349

    • ・発明者 岩田太, 山本 龍二、佐々木 彰 

       出願人 静岡大学、

       成膜装置及び成膜方法、

       出願日2006.8.31, 特願2006‐236598、特開2008-057011特許第486258号

    • ・発明者 岩田太

       光硬化性樹脂の微細加工方法及び装置

       出願人 静岡大学

       出願日2005.10.25  特願2005‐306214 特開2007-112021

    • ・発明者 岩田太

       出願人 静岡大学

       散乱光検出方法偏光変調装置及び走査型プローブ顕微鏡

       出願日2005.3.31, 特願2005‐105316、特開2006-098386

    • ・ 発明者 岩田太, 伊東 聡

       微小物質の再配置方法

       出願人 静岡大学

       出願日2004.6.8, 特願2004-170126号 特開2005-349254

    • ・発明者 岩田太

       出願人 静岡大学

       基板上に微小物質を堆積させる方法

       出願日2004.6.8, 特願2004-170125, 特開2005-349496

    • ・ 発明者 岩田太

       微細加工方法及び装置

       出願人 静岡大学

       出願日2004.6.8, 特願2004-169761, 特開2005-349487

    • ・発明者 坂口浩司、岩田太、佐々木彰、長村利彦

       出願人 静岡大学長

       電流の計測方法および表面の測定装置

       出願日2000.12.7, 特許第3551308号

    • ・発明者 坂口浩司、岩田太、佐々木彰

       電流の計測方法および表面形状の測定装置

       出願人 静岡大学

       出願日2001.3.8, 特許第3551315号

    • ・発明者 岩田太 、 田中 裕之 

       出願人 富士通㈱

       走査型電子顕微鏡

       出願日1992.10.30 特願平4-293038公開特許公報(A)特開平6-150868